(mis à jour le 20/9/2023 – 14h40)
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Chèr(es) Microscopistes, Chèr(e)s Collègues,
Le Comité d’Organisation des « Journées CMJ 2023 » est heureux de vous annoncer que les « Journées Utilisateurs – Utilisatrices » des microscopes de la marque JEOL, se dérouleront du mardi 26 au jeudi 28 septembre 2023, à Grenoble. Nous vous invitons à réserver ces dates dans votre agenda. Nous espérons vous retrouver nombreux et nombreuses, ou faire votre connaissance, lors de ces « Journées CMJ Grenoble 2023 ». Ces journées sont organisées en étroite collaboration avec nos collègues de l’Université de Grenoble (INP / UGA et CNRS / UGA) ainsi qu’avec avec notre partenaire historique la Société JEOL (Europe) SAS. Les Journées CMJ 2023 bénéficient du soutien officiel de l’INP / Université Grenoble Alpes et du CNRS / Université Grenoble Alpes.
Le Comité d’organisation
Menu rapide
► Inscriptions clôturées
► Programme 1 : « présentations orales »
► Programme 2 : « ateliers pratiques »
► Planning
► Informations pratiques
► Comité d’organisation et partenaire
► Contact
> Inscriptions aux Journées CMJ Grenoble 2023
« Panorama des dernières techniques et applications à la microscopie électronique dans les domaines de la Physique – Chimie – Matériaux, Biologie et matières molles, Acquisition – Traitement et Analyse de Données, Intelligence Artificielle »
INSCRIPTIONS CLOSES (l’accès au formulaire d’inscription en ligne est fermé) |
> Ouverture de la procédure d’inscription : 7 avril 2023
> Clôture de la procédure d’inscription : 15 juin 2023
> Date limite de réception des paiements : 23 juin 2023
> Date limite de réception des résumés : 30 août 2023
PROGRAMME > Présentations orales scientifiques et techniques
(P01-P11 / B01-B03 / T01-T02 / J01-J02)
Panorama des dernières avancées & applications en microscopie électronique, et conditions optimales d’installation – exploitation : présentations orales issus des disciplines Physique, Chimie, Sciences des Matériaux, Biologie… relatifs à des travaux de développement et de recherche, à des applications techniques, résultats scientifiques et études diverses… le tout dans un contexte de partage de connaissances et d’expériences, de pratiques professionnelles, sans oublier la présentation des nouveautés technologiques et des nouveaux instruments, celle de l’amélioration des produits et des périphériques, la définition des infrastructures d’accueil de nouveaux appareils, les conditions optimales d’exploitation… le tout en rapport avec le parc instrumental des microscopes électroniques de la marque JEOL
Programme susceptible de modification sans préavis
Physique – Chimie – Matériaux (11)
P01 ► In situ biasing dans un TEM (Martien den HERTOG, Institut Néel – CNRS/UGA – Grenoble INP)
P02 ► Introduction à la détermination de structures cristallographiques par diffraction électronique 3D (Stéphanie KODJIKIAN et Christophe LEPOITTEVIN, Institut Néel – CNRS/UGA – Grenoble INP)
P03 ► Mesures MET du champ élastique induit par les dislocations dans une phase MAX Cr2AlC (Arthur DESPRES, SIMAP – Grenoble INP/UGA – Grenoble INP)
P04 ► Application plus ou moins pragmatique de la microscopie électronique pour la caractérisation de matériaux plus ou moins industriels (Virgile ROUCHON, IFP Energies Nouvelles – Solaize)
P05 ► Microscopie électronique en phase liquide (LP-TEM) appliquée à l’étude in situ de la formation de nanomatériaux (Dris IHIAWAKRIM, IPCMS – Strasbourg)
P06 ► Apport des techniques HR STEM EELS / EDS à l’ingénierie des surfaces (Stéphanie REYNAUD, Laboratoire Hubert Curien – Saint-Etienne)
P07 ► STEM HR et EELS spatialement résolu pour l’identification in-situ d’un mécanisme de renversement ferroélectrique d’un ferrite de gallium (Xavier DEVAUX, Institut Jean Lamour – Nancy)
P08 ► Comportement sous irradiation des alliages de zirconium revêtus de Cr (Joël RIBIS, CEA – Gif sur Yvette)
P09 ► Utility of transmission electron microscopy and its associated spectroscopies for the characterization of microelectronic components (Jean-Gabriel MATTEI, STMicroelectronics – Crolles)
P10 ► Advanced EELS spectroscopy characterization of AlGaN/GaN based HEMT devices (Estève DROUILLAS, STMicroelectronics – Crolles)
P11 ► “Easy” stroboscopy in a TEM using electrostatic blanking (Aurélien MASSEBOEUF, CEA SPINTEC – Grenoble)
Biologie et matières molles (3)
B01 ► Morphogenèse des tores d’ADN condensé : résultats préliminaires de microscopie en phase liquide (Kahina VERTCHIK, LPS – Orsay)
B02 ► Conception de supra-assemblages moléculaires à base d’ADN (Nicolas TRIOMPHE, CBS – Montpellier)
B03 ► Microscopie Electronique en Transmission sur les polymères (Xavier JAURAND, Lymic CTµ – Lyon)
Acquisition, traitement et analyse de données (2)
T01 ► Intelligence artificielle et ses applications en microscopie électronique (Maxime MOREAUD, IFP Energies Nouvelles – Solaize)
T02 ► Deep learning approaches for limited-angle electron tomography (Zineb SAGHI, CEA – Grenoble)
Société JEOL (2)
J01 ► Le Service Technique JEOL : Organisation – Prestations – Actualités (Jean-Eudes TAGNE, JEOL SA EUROPE)
J02 ► JEOL News : Nouveautés instrumentales de la Société JEOL (Guillaume BRUNETTI, JEOL SA EUROPE)
PROGRAMME > Ateliers pratiques
(A1-A4)
A1 ► Préparation de lames minces par amincissement mécanique Multiprep.
Apport de l’amincissement ionique PIPS II en fonction du type d’échantillon
(Laetitia RAPENNE, LMGP – Grenoble INP/UGA)
A2 ► Diffraction électronique 3D – Résolution de structure (Stéphanie KODJIKIAN et Christophe LEPOITTEVIN, Institut Néel – CNRS/UGA Grenoble)
A3 ► Cartographie automatique des orientations cristallographiques et des phases à l’échelle nanométrique : l’outil ASTAR pour microscope électronique en transmission (Muriel VERON et Edgar RAUCH, SIMAP – Grenoble INP/UGA)
A4 ► Traitement complet d’images avec plug im! : illustration d’une méthode de segmentation et de débruitage des données utilisant l’intelligence artificielle (Maxime MOREAUD et Virgile ROUCHON, IFP Energies Nouvelles – Solaize)
> Planning
Planning susceptible de modification sans préavis
J1 (mardi 26 septembre) durée des sessions 4h00 |
J2 (mercredi 27 septembre) durée des sessions 5h00 |
J3 (jeudi 28 septembre) durée des sessions 3h30 |
11h30-12h30 Accueil participants
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09h00-12h15 Ateliers pratiques |
09h00-12h30 Présentations orales |
12h30-14h00 Déjeuner N°1 * | 12h30-14h00 Déjeuner N°2 * |
12h30-14h00 Déjeuner N°3 * |
14h15 Ouverture des Journées CMJ 14h30-18h20 : Présentations orales 19h30 Dîner D1 * |
14h15-17h00 : Présentations orales + Assemblée Générale CMJ 17h00-19h30 Act. ext.-scientifique 19h30 Dîner D2 ** |
14h15 Clôture des Journées CMJ |
(*) l’accueil des participants, les 3 déjeuners et le dîner D1 se dérouleront sur le lieu de déroulement et d’hébergement principal des Journées CMJ
(**) Dîner D2 > en extérieur
> Informations pratiques
Les Journées CMJ Grenoble 2023 se tiendront dans le lieu principal retenu pour l’hébergement. Les informations pratiques détaillées (adresse, plan..) seront envoyées directement aux personnes concernées, au plus tard deux semaines avant le début des Journées CMJ.
> Comité d’organisation et partenaires de la manifestation scientifique
Equipe locale d’organisation INP / Université Grenoble Alpes – Soutien officiel de la manifestation scientifique CNRS / Université Grenoble Alpes – Partenaire 2023
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Equipe nationale d’organisation Bureau exécutif de l’association Cercle des Microscopistes Jeol
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Partenaire permanent – Soutien officiel de la manifestation scientifique Société JEOL (Europe) SAS – Croissy-sur-Seine – FRANCE https://www.jeol.fr/ |
> Contact
Pour toute question relative à la gestion comptable et financière des inscriptions (tarifs, modalités de paiements, demande de justificatifs, RIB…) merci d’adresser votre demande par courriel à l’adresse :
gestion@cmj-microscopie.fr
Pour toute autre question merci d’adresser votre demande par courriel à l’adresse :
contact@cmj-microscopie.fr
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